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6-2
高光譜成像技術(shù)是基于非常多窄波段的影像數(shù)據(jù)技術(shù),它將成像技術(shù)與光譜技術(shù)相結(jié)合,探測目標(biāo)的二維幾何空間及一維光譜信息,獲取高光譜分辨率的連續(xù)、窄波段的圖像數(shù)據(jù)。高光譜成像技術(shù)發(fā)展迅速,常見的包括光柵分光、聲光可調(diào)諧濾波分光、棱鏡分光、芯片鍍膜等。可以應(yīng)用在食品安全、醫(yī)學(xué)診斷、航天領(lǐng)域等領(lǐng)域。與其他光譜成像—樣,高光譜成像收集和處理來自電磁波譜的信息。目標(biāo)是獲得場景圖像中每個(gè)像素的光譜,可用于尋找物體,識別材料或檢測過程。其光譜成像有兩種,其一是推掃式掃描,它能夠隨著時(shí)間的推移讀...
5-30
煤巖分析系統(tǒng)是一種用于冶金工程技術(shù)領(lǐng)域的分析儀器,用于巖礦、石油顯微組織的觀察與分析以及煤炭的反射率及焦炭組分分析。其優(yōu)點(diǎn)有哪些?(1)測定速度快:每分鐘測定1000點(diǎn);(2)測定點(diǎn)數(shù)多:至少測定1萬點(diǎn);(3)測定省時(shí)省力;(4)不受人為因素干擾,測定結(jié)果客觀公正;(5)測定符合統(tǒng)計(jì)規(guī)律,測定結(jié)果重現(xiàn)性與再現(xiàn)性都優(yōu)于有關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn);(6)可滿足焦化企業(yè)應(yīng)用中快速、代表性好等要求;(7)可發(fā)現(xiàn)人工或半自動測定由于測點(diǎn)少,不能測定到少量混入成分的問題;Fossil全自動煤巖分析系統(tǒng)...
5-26
普通掃描電鏡基于高能電子束與樣品表面相互作用,采用信號檢測系統(tǒng)獲得樣品反饋信號,并通過數(shù)字轉(zhuǎn)換器處理并重建圖像。這種原理使SEM具有高分辨率、高靈敏度和高定量性等優(yōu)點(diǎn)。普通掃描電鏡使用注意事項(xiàng):1.操作時(shí)需要穿戴防護(hù)設(shè)備,確保個(gè)人安全;2.在操作時(shí)應(yīng)注意鏡頭、樣品和設(shè)備的清潔和維護(hù),保持其良好狀態(tài)。1.準(zhǔn)確的電鏡使用方法和規(guī)范的操作流程可以延長電鏡的使用壽命和提高工作效率。2.要定期進(jìn)行電鏡的清潔和維護(hù),特別是鏡頭、樣品臺、探針等部件,使用專業(yè)清潔劑進(jìn)行清潔。3.電鏡放置在干...
4-25
X射線粉末衍射儀主要用于研究物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)、物相分析、測定點(diǎn)陣參數(shù)等,廣泛用于大中專院校、科研單位及工礦企業(yè)實(shí)驗(yàn)室。主要用于研究物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)、物相分析、測定點(diǎn)陣參數(shù)等,廣泛用于大中專院校、科研單位及工礦企業(yè)實(shí)驗(yàn)室。主要用途:1、可對各種多晶樣品進(jìn)行物相定性與定量分析及結(jié)構(gòu)分析。2、分峰和譜圖擬合及晶胞參數(shù)、晶粒尺寸、結(jié)晶度測定等。3、本儀器除進(jìn)行常規(guī)粉末物質(zhì)檢測外,該儀器在化學(xué)、物理材料、生物及礦物學(xué)領(lǐng)域均有廣泛應(yīng)用。4、儀器配置附件可進(jìn)行原位反應(yīng)物相分析、粒徑分析、纖維取向分...
4-10
低溫環(huán)境XRD是一種常用的材料研究手段,可以用于檢測材料的晶體結(jié)構(gòu)、物相組成、晶格缺陷等信息。原理基于物質(zhì)在低溫下會發(fā)生晶格結(jié)構(gòu)的變化,這種變化可以通過X射線衍射分析來檢測。具體而言,當(dāng)物質(zhì)受到X射線照射時(shí),X射線會穿過物質(zhì)并產(chǎn)生衍射。衍射信號的強(qiáng)度取決于物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),晶體結(jié)構(gòu)的變化會導(dǎo)致衍射信號的強(qiáng)度發(fā)生變化。通過對衍射信號的分析,可以推斷出物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、物相組成、晶格缺陷等信息。在材料科學(xué)領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。例如,在陶瓷材料、高分子材料、金屬材料等領(lǐng)域,低溫環(huán)境下X射線...
3-20
原子力顯微鏡AFM是一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細(xì)探針與受測樣品原子之間的作用力,從而達(dá)到檢測的目的,具有原子級的分辨率。主要用途:材料表面形貌的觀察和分析;對生物細(xì)胞的表面形態(tài)觀察;生物大分子的結(jié)構(gòu)及其他性質(zhì)的觀測研究;生物分子間力譜曲線的觀測。原子力顯微鏡受工作環(huán)境限制較少,它可以在超高真空、氣相、液相和電化學(xué)的環(huán)境下操作。(1)真空環(huán)境:最早的掃描隧道顯微鏡(STA)研究是在超高真空下進(jìn)行操作的。后來,隨著AFM...
3-16
鎢燈絲電鏡(TungstenFilamentElectronMicroscopy,WEM)是一種常見的透射電鏡(TEM),利用結(jié)晶或非晶樣品所產(chǎn)生的散射證據(jù)來分析材料結(jié)構(gòu)。電子束被放射出來,經(jīng)過聚焦實(shí)現(xiàn)功能的集成電路(ASIC)后聚焦到樣品上,然后在樣品上發(fā)生彈性和非彈性碰撞。不同反射角度的電子會產(chǎn)生不同強(qiáng)度的暗場和亮場效果,提供了微觀結(jié)構(gòu)的信息。如何使用鎢燈絲電鏡?1.準(zhǔn)備完整設(shè)備,將標(biāo)本拍攝模塊安裝到鎢絲爐板下方。2.使用純酸和去離子水清洗標(biāo)本,防止在取樣時(shí)污染標(biāo)本。3....
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